Urządzenie do testowania wytrzymałości pamięci EEPROM

Przedstawiane urządzenie opracowane przez ludzi z dangerousprototypes.com znajdzie raczej zastosowanie w laboratorium kontroli jakości producentów elektroniki niż na półce elektronika amatora. Jednak ze względu na niecodzienność projektu warto jest o nim wspomnieć. Służy ono bowiem do sprawdzania wytrzymałości pamięci EEPROM. Jak wiemy pamięć flash charakteryzuje się tym, iż posiada ograniczoną ilość cykli zapisu. Po osiągnięciu pewnego progu granicznego pamięć ta zużyje się i nie będzie pozwalać na przeprowadzanie dalszych cykli zapisu. Urządzenie to ma na celu zapisywanie testowej informacji na pamięci EEPROM, a następnie weryfikację zapisanych danych. Każda udana próba zapisu jest rejestrowana, a liczba wykonanych cykli pokazywana jest na wyświetlaczu 7-mio segmentowym.

Producenci szacują wytrzymałość swoich pamięci flash na około milion cykli zapisu. Ile czasu zajmie wykonanie 1 000 000 cykli zapisu danych ? Największa odnotowana prędkość zapisu urządzenia to 736 cykli na minutę, co w przełożeniu daje milion cykli w 22 godziny. Dla porównania proszę zauważyć że, gdyby urządzenie zapisywałoby z prędkością jednego zapisu na minutę to wykonanie miliona cykli zajęłoby aż 11 dni ! Urządzenie posiada kilka opracowanych cykli programowych, które mogą zostać wgrane do mikroprocesora. Cykle te różnią się prędkością zapisu.

Oczywistą sprawą jest to że, pamięć EEPROM nie została wykonana z myślą o pracy w tak ciężkich warunkach. Milion cykli zapisu to całkiem dobry wynik dla typowego użytkownika. W urządzeniach które potrzebują dłuższego ‘czasu życia’ używane są zwykle pamięci SRAM.

Sercem układu jest mikroprocesor PIC18F2550 taktowany kwarcem 20 Mhz. Jak do tej pory za pomocą tego urządzenia testowane były pamięci EEPROM firmy Microchip o pojemności 128 bajtów (24AA01-I/P). Pamięć EEPROM zasilana jest napięciem 5V i wymaga kondensatora filtrującego 0.1 uF. Komunikacja pomiędzy mikroprocesorem a pamięcią odbywa się za pomocą protokołu I2C. Piny kontrolne pamięci odpowiedzialne za konfigurację i blokadę zapisu są uziemione aby zapewnić bezproblemową pracę z kostką. Urządzenie posiada podstawkę na EEPROM, która pozwala na szybkie wymienianie testowanego układu scalonego.




Na stronie źródłowej można zobaczyć audycję na żywo pokazującą testowanie pamięci.



Źródło: http://dangerousprototypes.com/2010/05/25/prototype-flash_destroyer/

To nie jest tester _trwałości_ eepromu, on nie sprawdza ile czasu dane "trwają" ale sprawdza jedynie ile cykli zapisu wytrzymuje poszczególna komórka pamięci - czyli testuje wytrzymałość - na stronie źródłowej jest mowa o wytrzymałości właśnie - endurance

I moje trzy grosze - pamięć eeprom w AVR, gwarantowana ilość cykli zapisów: 100 tyś. W praktyce: od 4mln do 10mln

Raz ubita komórka nie nadaje się już zbytnio do wykorzystania...

https://www.elektroda.pl/rtvforum/topic1568124.html

Uważam że, czepiasz się słówek, bo każdy człowiek o przeciętnej inteligencji zrozumie zadanie tego urządzenia czy to będzie 'trwałość' czy 'wytrzymałość'. słowa te mają bardzo podobne znaczenia. Według słownika j. polskiego PWN :

"wytrzymywać -pozostać w pewnym położeniu [...] zwykle trudnym do zniesienia"

"trwały - zdatny do użytku przez dłuższy czas"

Jak widzisz oba te słowa określają do czego testowania przeznaczone jest to urządzenie.

Zmieniłem specjalnie dla Ciebie z okazji Dnia Dziecka. Mam nadzieję, że się cieszysz.

manekinen napisał:

I moje trzy grosze - pamięć eeprom w AVR, gwarantowana ilość cykli zapisów: 100 tyś. W praktyce: od 4mln do 10mln

Raz ubita komórka nie nadaje się już zbytnio do wykorzystania...

https://www.elektroda.pl/rtvforum/viewtopic.php?t=1568124

100 tysięcy jest gwarantowane, a co do praktyki to spróbuj podnieść temperaturę do 80 stopni to zobaczymy czy 500 tyś. wytrzyma. W danych specyficznych warunkach - b. ważnym parametrem jest temperatura, krzem wytrzymuje o wiele więcej niż katalogowo. Tak samo jak AVRy odpalają się na wyższych zegarach jak w katalogu to tylko w węższym zakresie temperatur... Gwarantowane dane katalogowe są określone dla danego zakresu temperatur stąd te różnice w praktyce do 10 milionów zapisów.

pozdrawiam

kamilsos - ależ nie czepiam się, w żadnym wypadku Ktoś w tamtym temacie też mi zwrócił uwagę bo to jednak duża różnica, może nie w słowniku ale wystarczy zajrzeć do not mikrokontrolerów

sheeeep - oczywiście, ale ten układ także tego nie uwzględnia - testy w temperaturze pokojowej. Myślę że jak by podgrzać całość do tych 80*C to prędzej zagotowałby się PIC i popełnił jakiś błąd, niż padł eeprom.