Elektroda.pl
Elektroda.pl
X
Proszę, dodaj wyjątek dla www.elektroda.pl do Adblock.
Dzięki temu, że oglądasz reklamy, wspierasz portal i użytkowników.

Prośba o sprawdzenie smart używany HD502HJ

06 Sie 2012 22:24 1118 7
  • Poziom 9  
    Witam,

    jako że kompletenie się na tym nie znam, będę wdzięczny za rzucenie okiem i stwierdzenie, czy dysk jest w miarę ok, czy lepiej mu zbytnio nie ufać ;-):

    Code:
    smartctl 5.41 2011-06-09 r3365 [x86_64-linux-3.2.0-27-generic] (local build)
    
    Copyright (C) 2002-11 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net

    === START OF INFORMATION SECTION ===
    Model Family:     SAMSUNG SpinPoint F3
    Device Model:     SAMSUNG HD502HJ
    Serial Number:    S20BJDWS902940
    LU WWN Device Id: 5 0024e9 0020b7cd4
    Firmware Version: 1AJ100E4
    User Capacity:    500,107,862,016 bytes [500 GB]
    Sector Size:      512 bytes logical/physical
    Device is:        In smartctl database [for details use: -P show]
    ATA Version is:   8
    ATA Standard is:  ATA-8-ACS revision 6
    Local Time is:    Mon Aug  6 22:13:58 2012 CEST
    SMART support is: Available - device has SMART capability.
    SMART support is: Enabled

    === START OF READ SMART DATA SECTION ===
    SMART overall-health self-assessment test result: PASSED

    General SMART Values:
    Offline data collection status:  (0x00)   Offline data collection activity
                   was never started.
                   Auto Offline Data Collection: Disabled.
    Self-test execution status:      (   0)   The previous self-test routine completed
                   without error or no self-test has ever
                   been run.
    Total time to complete Offline
    data collection:       ( 4680) seconds.
    Offline data collection
    capabilities:           (0x5b) SMART execute Offline immediate.
                   Auto Offline data collection on/off support.
                   Suspend Offline collection upon new
                   command.
                   Offline surface scan supported.
                   Self-test supported.
                   No Conveyance Self-test supported.
                   Selective Self-test supported.
    SMART capabilities:            (0x0003)   Saves SMART data before entering
                   power-saving mode.
                   Supports SMART auto save timer.
    Error logging capability:        (0x01)   Error logging supported.
                   General Purpose Logging supported.
    Short self-test routine
    recommended polling time:     (   2) minutes.
    Extended self-test routine
    recommended polling time:     (  78) minutes.
    SCT capabilities:           (0x003f)   SCT Status supported.
                   SCT Error Recovery Control supported.
                   SCT Feature Control supported.
                   SCT Data Table supported.

    SMART Attributes Data Structure revision number: 16
    Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
    ID# ATTRIBUTE_NAME          FLAG     VALUE WORST THRESH TYPE      UPDATED  WHEN_FAILED RAW_VALUE
      1 Raw_Read_Error_Rate     0x002f   100   100   051    Pre-fail  Always       -       0
      2 Throughput_Performance  0x0026   252   252   000    Old_age   Always       -       0
      3 Spin_Up_Time            0x0023   082   081   025    Pre-fail  Always       -       5528
      4 Start_Stop_Count        0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       178
      5 Reallocated_Sector_Ct   0x0033   252   252   010    Pre-fail  Always       -       0
      7 Seek_Error_Rate         0x002e   252   252   051    Old_age   Always       -       0
      8 Seek_Time_Performance   0x0024   252   252   015    Old_age   Offline      -       0
      9 Power_On_Hours          0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       19463
     10 Spin_Retry_Count        0x0032   252   252   051    Old_age   Always       -       0
     11 Calibration_Retry_Count 0x0032   252   252   000    Old_age   Always       -       0
     12 Power_Cycle_Count       0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       185
    191 G-Sense_Error_Rate      0x0022   252   252   000    Old_age   Always       -       0
    192 Power-Off_Retract_Count 0x0022   252   252   000    Old_age   Always       -       0
    194 Temperature_Celsius     0x0002   064   051   000    Old_age   Always       -       33 (Min/Max 15/49)
    195 Hardware_ECC_Recovered  0x003a   100   100   000    Old_age   Always       -       0
    196 Reallocated_Event_Count 0x0032   252   252   000    Old_age   Always       -       0
    197 Current_Pending_Sector  0x0032   252   252   000    Old_age   Always       -       0
    198 Offline_Uncorrectable   0x0030   252   252   000    Old_age   Offline      -       0
    199 UDMA_CRC_Error_Count    0x0036   200   200   000    Old_age   Always       -       0
    200 Multi_Zone_Error_Rate   0x002a   100   100   000    Old_age   Always       -       0
    223 Load_Retry_Count        0x0032   252   252   000    Old_age   Always       -       0
    225 Load_Cycle_Count        0x0032   100   100   000    Old_age   Always       -       186

    SMART Error Log Version: 1
    No Errors Logged

    SMART Self-test log structure revision number 1
    No self-tests have been logged.  [To run self-tests, use: smartctl -t]


    Note: selective self-test log revision number (0) not 1 implies that no selective self-test has ever been run
    SMART Selective self-test log data structure revision number 0
    Note: revision number not 1 implies that no selective self-test has ever been run
     SPAN  MIN_LBA  MAX_LBA  CURRENT_TEST_STATUS
        1        0        0  Completed [00% left] (0-65535)
        2        0        0  Not_testing
        3        0        0  Not_testing
        4        0        0  Not_testing
        5        0        0  Not_testing
    Selective self-test flags (0x0):
      After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
    If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
  • Pomocny post
    Spec od pamięci masowych
  • Poziom 9  
    Dziękuję bardzo :-). Z MHDD mam mały problem- nie mam w komputerze ani FDD, ani napędu CD. Spróbuję, jak będę miał czas, zbootować to z pendrive'a, o ile to w ogóle możliwe ;-). Chyba, że test można wykonać jakimś alternatywnym narzędziem (idealnie jeśli linuxowym).

    Jeśli chodzi o 1. link, to przeglądałem wcześniej, jednak brakuje punktu odniesienia, nie wiedziałem, z czym mam porównać wartości, jakie są odpowiednie.
  • Pomocny post
    Spec od pamięci masowych
    k_cz napisał:
    Jeśli chodzi o 1. link, to przeglądałem wcześniej, jednak brakuje punktu odniesienia, nie wiedziałem, z czym mam porównać wartości, jakie są odpowiednie.

    Wszystko jest tam opisane:
    "Każdy atrybut S.M.A.R.T posiada zestaw właściwości RAW, Threshold, Worst, Value. Konkretna wartość Threshold jest przypisana do konkretnego atrybutu. Kiedy wartość RAW spadnie poniżej progu jest to monitorowane jako usterka. Niektóre atrybuty uważane są za krytyczne a niektóre tylko informacyjne nie muszą one świadczyć o awarii dysku.

    Wartość RAW - RAW (Hex)
    Wartości atrybutów - To na podstawie wyniku tego parametru atrybutu dowiadujemy się o obecnym stanie dysku. Pokazuje on surowy wynik np. dla atrybutu 5 jest to ilość realokowanych sektorów.
    Próg - Threshold
    Jest to najniższy limit wartości różnych atrybutów. SMART porównuje wartości atrybutów z progami do identyfikacji awarii. Liczba określająca próg jest określana przez producenta urządzenia. Próg jest ustawiony fabrycznie przez producenta urządzenia i nie zmienia się.
    Najgorszy - Worst
    To najgorsza odnotowana wartość atrybutu, która wystąpiła do tej pory. (Najniższa odnotowana wartość Value)
    Bieżący - Value
    Wartość może być przyjmowana 1-100 ale są atrybuty ,które przyjmują inne wartości. Urządzenie porównuje wartości atrybutów z progami. Kiedy wartości atrybutów są większe niż progi, urządzenie działa normalnie. (Kiedy Value jest poniżej Threshold świadczy to o awarii choć nie jest to warunek konieczny)."

    k_cz napisał:
    Spróbuję, jak będę miał czas, zbootować to z pendrive'a, o ile to w ogóle możliwe ;-).

    http://partedmagic.com/doku.php?id=creating_the_liveusb
    Uruchomienie MHDD z Parted Magic -> wybrać pozycję "Extras Menu" i w kolejnym oknie odszukać MHDD (chyba "E.")
  • Poziom 9  
    Dzięki za informacje.

    Coś mi nie pykło chyba z zapisaniem logów z tego MHDD, bo nigdzie nie mogę ich znaleźć, przeklepię więc, co na ekranie było:

    avg 114531 kb/s
    act 77756 kb/s

    <3ms 3820395
    <10ms 10075
    <50ms 14
    wszystko niżej pusto

    Rozumiem, że wszystko ok?

    Ogromna większość bloków z czasem odczytu <10ms była obok siebie, pod koniec skanowania. Najpierw poleciało 1-2% (chyba coś koło tego), gdzie było ich sporo, potem znowu ok, a potem chwilę był obszar, gdzie takich bloków była większość. Po pierwszych 90% bloków z czasem <10ms było kilkaset (~150 chyba). To normalne?
  • Pomocny post
    Poziom 43  
    k_cz napisał:
    Rozumiem, że wszystko ok?

    Tak.
  • Pomocny post
    Spec od pamięci masowych
    Po upewnieniu się (skan) mamy ok. 100% pewność, ze ten dysk w najbliższym czasie, nie będzie sprawiać problemów.
  • Poziom 9  
    Super :-). Dziękuję Wam za pomoc.