Witam. Chcę się tu podzielić wykonanym przeze mnie usprawnieniem multimetru do wykonywania pomiarów hFE. Usprawnienie to polega na wymianie oryginalnej okrągłej podstawki na podstawkę DIL r. 2,54 mm.
Wymiana tej podstawki zapewnia pewne połączenie przy pomiarach współczynnika wzmocnienia tranzystorów nawet o bardzo krótkich wyprowadzeniach oraz z resztkami cyny na wyprowadzeniach tranzystora po jego wymontowaniu w celu pomiaru z naprawianego aktualnie sprzętu elektronicznego.
Załączam fotografie.
Wymiana tej podstawki zapewnia pewne połączenie przy pomiarach współczynnika wzmocnienia tranzystorów nawet o bardzo krótkich wyprowadzeniach oraz z resztkami cyny na wyprowadzeniach tranzystora po jego wymontowaniu w celu pomiaru z naprawianego aktualnie sprzętu elektronicznego.
Załączam fotografie.
Załączniki:
-
DSC00417.jpg
(271.61 KB)
Musisz być zalogowany, aby pobrać ten załącznik.
-
DSC00419.jpg
(325.97 KB)
Musisz być zalogowany, aby pobrać ten załącznik.
