Witam serdecznie,
Obciążalność bramki NAND TTL, to z definicji maksymalna ilość innych bramek, jaką można podłączyć na wyjściu tej jednej, aby stan logiczny na jej wyjściu nie zmienił się.
Moje pytania:
1. Jak wyznaczyć obciążalność bramki NAND TTL z charakterystyk (wykresów) (których ch-k: WE/WY0/WY1/PRZE?) bramki?
2. Który parametr służy jako kryterium podziału układów cyfrowych TTL i od czego ten parametr zależy?
3. Co to jest margines szumów. Na co on wpływa i od czego zależy?
4. Jak wyznaczyć maksymalny prąd wyjściowy w stanie "0" i "1" na wyjściu?
5. Jaką metodą można wyznaczyć rezystancję wyjściową bramki w stanie "0" i "1" na wyjściu?
Z góry serdecznie dziękuję za pomoc,
Pozdrawiam,
Kubbaz.
PS> Z pewnością nie zapomnę o punktach za pomoc
.
Obciążalność bramki NAND TTL, to z definicji maksymalna ilość innych bramek, jaką można podłączyć na wyjściu tej jednej, aby stan logiczny na jej wyjściu nie zmienił się.
Moje pytania:
1. Jak wyznaczyć obciążalność bramki NAND TTL z charakterystyk (wykresów) (których ch-k: WE/WY0/WY1/PRZE?) bramki?
2. Który parametr służy jako kryterium podziału układów cyfrowych TTL i od czego ten parametr zależy?
3. Co to jest margines szumów. Na co on wpływa i od czego zależy?
4. Jak wyznaczyć maksymalny prąd wyjściowy w stanie "0" i "1" na wyjściu?
5. Jaką metodą można wyznaczyć rezystancję wyjściową bramki w stanie "0" i "1" na wyjściu?
Z góry serdecznie dziękuję za pomoc,
Pozdrawiam,
Kubbaz.
PS> Z pewnością nie zapomnę o punktach za pomoc