S[cm²] w ośrodku powietrznym a także po przysłonięciu szybką przeźroczystą grubości ok. 1 mm.
Dioda emitująca falę w paśmie widzialnym (czerwona - 635 nm) i podczerwieni (950 nm). Do dyspozycji mam karty katalogowe z danymi takimi jak w przypadku diody:
1. czerwonej - Iv[mcd], Φv[mlm] wszystko przy określonym IF[mA];
wykresy Iv/Iv(przy IF)= f(IF), Irel= f(Φ)
2. podczerwieni - Φe[mW] i wykresy podobnie jak wyżej Ie/Ie(przy IF)= f(IF), Irel= f(Φ).
Dla dla osób zajmujących się fotometrią profesjonalnie (od takich raczej oczekiwałbym odpowiedzi, ale nie tylko), jest to prawdopodobnie zadanie banalne, natomiast przy moich podstawowych zasobach wiedzy z optyki i oświetlenia, problem na razie mnie trochę przerasta. Problem zaskoczył mnie przy projektowaniu (zg. z nową normą) nadajnika stanowiska do sprawdzania czułości fotogłowic. Interesowałaby mnie bardziej metoda analityczna, ponieważ podejrzewam ze zdobyciem specjalizowanego miernika będzie trochę problemu. Zdaję sobie sprawę, że w najgorszym przypadku czeka mnie nurkowanie w fachowej literaturze w dziedzinie, którą lubię ale nigdy nie była moją najmocniejszą stroną i chcąc tego jak na razie uniknąć wrzuciłem ten temat licząc na to, że może ktoś pomoże.
