logo elektroda
logo elektroda
X
logo elektroda
REKLAMA
REKLAMA
Adblock/uBlockOrigin/AdGuard mogą powodować znikanie niektórych postów z powodu nowej reguły.

Sterowanie MOSFETami półmostka - jakie są typowe czasy martwe? Na bazie ST

krisRaba 24 Lis 2017 23:13 2106 11
REKLAMA
  • #1 16847212
    krisRaba
    Poziom 31  
    Posty: 1999
    Pomógł: 94
    Ocena: 434
    Witajcie,
    mam pytanie do osób obytych ze sterowaniem mostkami H lub pół-mostkami. Jak tytuł zdradza - chodzi o czasy martwe pomiędzy załączaniem klucza górnego i dolnego...
    W ostatnim czasie miałem do czynienia z różnymi stopniami wyjściowymi - od całkowicie zintegrowanych driverów (potrójny pół-mostek) na prądy rzędu 1-2Arms, po układy zbudowane z osobnych driverów + MOSFETy na prądy rzędu 15Arms/30Apeak.
    Przykładem tego ostatniego może być x-nucleo-ihm08m1 z driverami L6398 i tranzystorami STL220N6F7.
    Fragment stopnia wyjściowego:
    Sterowanie MOSFETami półmostka - jakie są typowe czasy martwe? Na bazie ST
    To co ważne, ten tranzystor, to niby jakiś Mercedes wśród MOSFETów ;) Chyba, że to tylko marketing...
    www.st.com/resource/en/datasheet/stl220n6f7.pdf
    W innym mostku z kolei były STL160NS3LLH7, czyli jeszcze lepszy kosmos z Qg=20nC
    www.st.com/resource/en/datasheet/stl160ns3llh7.pdf

    I tak, patrząc na kartę drivera (www.st.com/resource/en/datasheet/l6398.pdf) widzimy, że sam z siebie wtrąca 320ns czasu martwego
    Sterowanie MOSFETami półmostka - jakie są typowe czasy martwe? Na bazie ST
    Jak się prześledzi "Figure 4. Deadtime and interlocking waveforms definitions", to widać jak to działa - blokuje możliwość jednoczesnego załączenia obu tranzystorów, zawsze wtrąca swój czas martwy i ewentualnie pozwala na wydłużenie tego czasu już po stronie mikrokontrolera. Proste i sympatyczne ;) Dodatkowo mamy informację, że HIN i /LIN możemy sobie połączyć i sterować je jedną linią ;) Teoretycznie... bo nawet bez podłączonego obciążenia robi się patelnia, na której można smażyć jajka ;) What?! 320ns to za mało?!

    Przykładowo w tym maleństwie DRV8313 mamy deadtime 90ns! (tabela 6.6 Switching Characteristics na str.7) Ok, rozumiem, małe prądy, zintegrowane, brak pojemności pasożytniczych, driver dopasowany do tranzystora...
    http://www.ti.com/lit/ds/symlink/drv8313.pdf

    Ale nie każdy tak potrafi, bo już przykładowo L6230 (podobne prądy jak wyżej) ma typowo 1us ;)
    www.st.com/resource/en/datasheet/CD00287681.pdf

    To teraz jeszcze ciekawiej... 320ns było mało, a musi być minimum... 800ns! I tyle właśnie ST stosuje w swoich bibliotekach FOC :)

    I teraz to moje obiecane pytanie. Czy przy większych prądach wyjściowych to normalne, że trzeba czekać wieczność pomiędzy przełączeniem kluczy? ;) Czy może po prostu te drivery są za słabe, żeby wystarczająco szybko przeładować bramki?
  • REKLAMA
  • #2 16847689
    jarek_lnx
    Poziom 43  
    Posty: 22676
    Pomógł: 4187
    Ocena: 6091
    Cytat:
    I teraz to moje obiecane pytanie. Czy przy większych prądach wyjściowych to normalne, że trzeba czekać wieczność pomiędzy przełączeniem kluczy? ;) Czy może po prostu te drivery są za słabe, żeby wystarczająco szybko przeładować bramki?
    Analizując schemat można policzyć że driver ma rezystancje wewnętrzną 34Ω w stanie L i 51Ω w stanie H do tego dodaje sie 100Ω rezystancji zewnętrznej w stanie H albo 37Ω w stanie L w sumie 151Ω w stanie H albo 71Ω w stanie L.
    Przy wyłączaniu STL220N6F7 przed osiągnięciem Miller plateau rozładowywanie potrwa 420ns później jeszcze nieco ponad 300ns samego przełączania, w tym samym czasie po 300ns dead time-u startuje ładowanie które potrwa 620ns do osiągnięcia Miller plateau a więc różnica wychodzi 200ns w tym przypadku to nie jest dużo, bo obliczenia czasów ładowania nieliniowych pojemności są niezbyt dokładne - tylko oscyloskop da ci pewność.

    Podczas Miller plateau płynie 100mA w stanie niskim i 50mA w stanie wysokim nie jest to dużo, można zmniejszyć rezystory i zastosować wydajniejszy driver.

    Początkującym sie wydaje że im krótsze czasy przełączania, tym lepiej, bo mniejsze straty, niestety wraz z przyśpieszaniem przełączania poszerza sie widmo generowanych zakłóceń a te lepiej ograniczać zmniejszając szybkość przełączania niż później filtrować.
  • REKLAMA
  • #3 16848036
    krisRaba
    Poziom 31  
    Posty: 1999
    Pomógł: 94
    Ocena: 434
    Te wymagane 800ns jest zmierzone na rezystorze pomiarowym (shunt). Sprawdzałem oscyloskopem (sonda ze sprężynką, by złapać tylko element) spadek napięcia na nim przy braku zewnętrznego obciążenia na mostku dla różnych wartości wpisywanych do BDTR i do bodajże 55 (czyli 763ns przy tDTS=1/72MHz) piki przy przełączaniu L->H i H->L się stopniowo zmniejszały. Potem już bez różnicy.

    Nawet przy wartości 40 w BDTR, czyli 555ns i pracy bez obciążenia (w sensie tylko przełączanie mostka z wyjściem wiszącym w powietrzu) tranzystory zaczynają się dość szybko nagrzewać, czyli grzejemy go tym co przepływa od VIN do GND przez wysokie Rds w trakcie przełączania.

    Z ciekawości...
    jarek_lnx napisał:
    Analizując schemat można policzyć że driver ma rezystancje wewnętrzną 34Ω w stanie L i 51Ω w stanie H

    jak to wyznaczyłeś? Z prądów sink/source, dołożonych rezystorów i napięć, z założeniem, że cisną je na maksimum możliwości? Czy w jakiś inny sposób?
    Bo z kolei w innym układzie mają dokładnie te same wartości rezystorów, a drivery zasilane są z 10V, a nie 15V jak w IHM08M1...
    http://www.st.com/resource/en/data_brief/steval-esc001v1.pdf

    Póki co po prostu zastanawiam się, czy tego typu układy tak mają, czy coś tu jest skopane. Bo wiadomo, że takie zestawy są "reference only" i przychodzi mi na myśl choćby biblioteka SPL od ST, o której jakości wiele już dyskutowano...
    Zbyt duży czas martwy rozjeżdża trochę płynność sterowania sinusoidalnego (SPWM, SVPWM) przy redukcji wypełnienia dla ograniczenia prądu i tylko dlatego się nad tym zastanawiam. Bo w 6step czy FOC zdaje się to nie mieć aż takiego znaczenia.
  • REKLAMA
  • #4 16848152
    jarek_lnx
    Poziom 43  
    Posty: 22676
    Pomógł: 4187
    Ocena: 6091
    krisRaba napisał:
    Te wymagane 800ns jest zmierzone na rezystorze pomiarowym (shunt). Sprawdzałem oscyloskopem (sonda ze sprężynką, by złapać tylko element) spadek napięcia na nim przy braku zewnętrznego obciążenia na mostku dla różnych wartości wpisywanych do BDTR i do bodajże 55 (czyli 763ns przy tDTS=1/72MHz) piki przy przełączaniu L->H i H->L się stopniowo zmniejszały. Potem już bez różnicy.
    Pokaż oscylogramy napięcia na bramkach, będzie widać czy nachodzą na siebie czy też nie i czy nie ma innych szkodliwych zjawisk.

    krisRaba napisał:
    jak to wyznaczyłeś? Z prądów sink/source, dołożonych rezystorów i napięć, z założeniem, że cisną je na maksimum możliwości? Czy w jakiś inny sposób?
    Piszą wyraźnie że to prąd zwarcia przy 15V, więc przyjąłem takie oszacowanie, jest nawet nieco pesymistyczne w stosunku do wyjścia z tranzystorami MOS, w driverach z lepszą dokumentacją jest więcej danych są charakterystyki rezystancji w funkcji napięcia zasilania, charakterystyki wyjścia itp.

    krisRaba napisał:
    Bo z kolei w innym układzie mają dokładnie te same wartości rezystorów, a drivery zasilane są z 10V, a nie 15V jak w IHM08M1...
    http://www.st.com/resource/en/data brief/steval-esc001v1.pdf
    Staram sie zasilać drivery napięciem bliskim dwukrotności poziomu Miller plateau, wtedy czasy włączenia i wyłączenia są bliższe sobie, dał bym nawet 7V dla tych tranzystorów.

    krisRaba napisał:
    Zbyt duży czas martwy rozjeżdża trochę płynność sterowania sinusoidalnego (SPWM, SVPWM) przy redukcji wypełnienia dla ograniczenia prądu i tylko dlatego się nad tym zastanawiam. ...
    Fakt, jak jest potrzeba to można przyśpieszyć przełączanie i zmniejszyć deadtime.
  • Pomocny post
    #5 16848200
    Urgon
    Poziom 38  
    Posty: 7281
    Pomógł: 197
    Ocena: 2632
    AVE...

    Microchip w jednym ze swoich filmów edukacyjnych o SMPS z użyciem dsPIC podaje przy topologii half-bridge typowy czas martwy o wartości 150nS...
  • #6 16848507
    krisRaba
    Poziom 31  
    Posty: 1999
    Pomógł: 94
    Ocena: 434
    jarek_lnx napisał:
    Pokaż oscylogramy napięcia na bramkach, będzie widać czy nachodzą na siebie czy też nie i czy nie ma innych szkodliwych zjawisk.

    Ok, jak będę miał możliwość, to zrobię zrzuty przebiegów. W sumie dobry pomysł, ja patrzyłem na przebiegi HIN, /LIN, spadek na shunt i napięcie wyjściowe, a przebiegi na bramkach też coś powiedzą :)

    jarek_lnx napisał:
    Piszą wyraźnie że to prąd zwarcia przy 15V

    To ciekawe. Nie zwróciłem na to uwagi, a faktycznie w tabeli 5.2 DC Operation -> Driving buffers section jest "High/low-side source short-circuit current". Prawdę mówiąc myślałem, że rezystory o takich wartościach dali, żeby ograniczyć prąd właśnie do wspomnianych możliwości source/sink.. Czyli teoretycznie tych rezystorów mogłoby nie być i po prostu to driver nie wyda/wciągnie więcej prądu?

    jarek_lnx napisał:
    Staram sie zasilać drivery napięciem bliskim dwukrotności poziomu Miller plateau, wtedy czasy włączenia i wyłączenia są bliższe sobie, dał bym nawet 7V dla tych tranzystorów.

    W sumie nie znałem takiej zasady. To jeszcze tylko powiedz, na którym wykresie to widzisz ;) Gate charge vs gate-source voltage? Rozumiem, że dla STL160NS3LLH7 dałbyś 7V, a dla STL220N6F7 dałbyś 13V?

    Urgon napisał:
    Microchip w jednym ze swoich filmów edukacyjnych o SMPS z użyciem dsPIC podaje przy topologii half-bridge typowy czas martwy o wartości 150nS...

    Nie udało mi się na to trafić przewijając, a nie bardzo miałem czas obejrzeć całość, ale wierzę na słowo :). Czyli wychodzi, że znów znacznie krócej... Choć w SMPS teraz jest priorytet na niskie straty z uwagi na brak grzania pomagający w miniaturyzacji oraz sprawność całego układu. Więc wolą filtrować niż zwiększać slew-rate ;) Ale fakt, że to często układy pracujące z większymi prądami, więc nie ma zasady, że większy prąd to zawsze trwające wiecznie czasy martwe ;)
  • Pomocny post
    #7 16855274
    jarek_lnx
    Poziom 43  
    Posty: 22676
    Pomógł: 4187
    Ocena: 6091
    krisRaba napisał:
    To ciekawe. Nie zwróciłem na to uwagi, a faktycznie w tabeli 5.2 DC Operation -> Driving buffers section jest "High/low-side source short-circuit current". Prawdę mówiąc myślałem, że rezystory o takich wartościach dali, żeby ograniczyć prąd właśnie do wspomnianych możliwości source/sink.. Czyli teoretycznie tych rezystorów mogłoby nie być i po prostu to driver nie wyda/wciągnie więcej prądu?
    Istnieją drivery które mają bipolarny stopień wyjściowy i tam faktycznie jest ograniczenie w Absolute Maximum Ratings. Nasz driver nie ma nic o prądzie maksymalnym, rezystorów mogło by nie być.

    krisRaba napisał:
    W sumie nie znałem takiej zasady. To jeszcze tylko powiedz, na którym wykresie to widzisz ;) Gate charge vs gate-source voltage? Rozumiem, że dla STL160NS3LLH7 dałbyś 7V, a dla STL220N6F7 dałbyś 13V?
    Tak o ten wykres chodzi.
    Nie jest to sztywna zasada, po prostu wniosek z obserwacji pracy układów z asymetrią, czasami asymetrię czasów przełączania wprowadza sie celowo, ale lepiej to zrobić diodą.
    W półmostku zastosowano mniejszą rezystancję w stanie L (rezystor z diodą) żeby przeciwdziałać zjawisku wzrostu napięcia na bramce przy dużych szybkościach narastania napięcia na drenie, wtedy płynie prąd przez Cgd i wyłączony tranzystor może sie włączyć.

    Urgon napisał:
    Microchip w jednym ze swoich filmów edukacyjnych o SMPS z użyciem dsPIC podaje przy topologii half-bridge typowy czas martwy o wartości 150nS...
    Mozliwe, czas martwy powinien być dobrany do szybkości przełączania tranzystorów, a ta do częstotliwości kluczowania. 150ns w układzie pracującym na kilkudziesięciu kHz to niewiele, w układzie pracującym na kilku MHz to już dużo. Tylko we wzmacniaczach klasy D należy minimalizować czas martwy do niezbędnego minimum, w innych zastosowaniach można pozwolić sobie na pewien zapas.
  • #8 16855426
    krisRaba
    Poziom 31  
    Posty: 1999
    Pomógł: 94
    Ocena: 434
    jarek_lnx napisał:
    Istnieją drivery które mają bipolarny stopień wyjściowy i tam faktycznie jest ograniczenie w Absolute Maximum Ratings. Nasz driver nie ma nic o prądzie maksymalnym, rezystorów mogło by nie być.

    Też mnie zastanowiło, że nie ma tego w Absolute Maximum Ratings. Poeksperymentuję z mniejszymi wartościami rezystancji.

    jarek_lnx napisał:
    W półmostku zastosowano mniejszą rezystancję w stanie L (rezystor z diodą) żeby przeciwdziałać zjawisku wzrostu napięcia na bramce przy dużych szybkościach narastania napięcia na drenie, wtedy płynie prąd przez Cgd i wyłączony tranzystor może sie włączyć.

    Interesujące. Myślałem, że chcą po prostu szybciej wyłączać poprzez szybsze rozładowanie bramki. Będę musiał jeszcze raz sprawdzić przebiegi na bramkach, ale ostatnio gdy na szybko coś patrzyłem, to na jednym z nich była ciekawa, powtarzalna szpila przy narastaniu napięcia (pewnie od innego zjawiska niż piszesz powyżej). Wydaje mi się, że to było na LVG.

    Zastanawia mnie też, że dali 10k między bramkę i źródło, a w dokumentacji drivera sami piszą:
    datasheet napisał:
    The circuit guarantees less than 1 V on the LVG and HVG pins (at Isink = 10 mA), with VCC > 3 V. This allows omitting the “bleeder” resistor connected between the gate and the source of the external MOSFET normally used to hold the pin low
    .
    Chyba, że zakładają sytuację, gdy driver nie jest zasilony, a jest obecne VIN.

    jarek_lnx napisał:
    Mozliwe, czas martwy powinien być dobrany do szybkości przełączania tranzystorów, a ta do częstotliwości kluczowania. 150ns w układzie pracującym na kilkudziesięciu kHz to niewiele, w układzie pracującym na kilku MHz to już dużo. Tylko we wzmacniaczach klasy D należy minimalizować czas martwy do niezbędnego minimum, w innych zastosowaniach można pozwolić sobie na pewien zapas.

    Ja mam 21kHz, z tym że jak już pisałem, te 800ns bruździ przy sterowaniu sinusoidalnym i niewielkich wypełnieniach.
  • Pomocny post
    #9 16856073
    _lazor_
    VIP Zasłużony dla elektroda
    Posty: 3795
    Pomógł: 259
    Ocena: 1132
    Trochę się zastanawiałem nad odpowiedzią, gdyż nie mam za wielkiego doświadczenia w półmostkach gdzie nie ma rezonansu, ale jednak nie ma aż takich rozbieżności.

    Zacznijmy od tego że nie powinno się odpalać półmostków bez obciążenia. Dlaczego? Bo występuje wtedy najgorsza forma przełączania - hard swiching.
    W takim wypadku prądy przeładowania się pojemności tranzystorów powodują dość spore straty, zwłaszcza na górnych kluczach.

    https://www.vishay.com/docs/67527/matchingsystemdeadtime.pdf

    Fakt jest to materiał na temat H bridge ale spokojnie można to przełożyć na half bridge.
    By zminimalizować straty na przełączaniu można pracować w ZVS, który można osiągnąć dzięki indukcyjności obciążenia. W takim wypadku dead time nie powinien być dłuższy niż czas przewodzenia diody w mosfecie. Jednak trzeba pamiętać im dłużej przewodzi dioda tym większe straty.

    Może Cię jeszcze zainteresować rysunek numer 2 z tego opracowania naukowego:

    https://www.researchgate.net/profile/Jan_Muck...rs-as-the-ZVS-and-the-almost-ZCS-switches.pdf

    Ten dokument też jest bardzo ciekawy, chociaż mówi o konkretnym sterowniku, większość rzeczy można spokojnie przenieść na inne sterowniki.
    http://sites-final.uclouvain.be/lei/enseignem...me/Documents/ElectroniquePuissance/AN1299.pdf
  • #10 16856387
    krisRaba
    Poziom 31  
    Posty: 1999
    Pomógł: 94
    Ocena: 434
    _lazor_ napisał:
    Trochę się zastanawiałem nad odpowiedzią, gdyż nie mam za wielkiego doświadczenia w półmostkach gdzie nie ma rezonansu, ale jednak nie ma aż takich rozbieżności.

    Cieszę się, że jednak się zdecydowałeś, bo "wody, po których pływam" zwykle kończą się bardzo krótką, albo żadną dyskusją ;) Na temat koloru obudowy, czy nierównego wycięcia pod wyświetlacz jakoś chyba łatwiej rozpętać burzę :lol:
    Bardzo ciekawe materiały - dziękuję za linki.

    _lazor_ napisał:
    Zacznijmy od tego że nie powinno się odpalać półmostków bez obciążenia. Dlaczego? Bo występuje wtedy najgorsza forma przełączania - hard swiching.
    W takim wypadku prądy przeładowania się pojemności tranzystorów powodują dość spore straty, zwłaszcza na górnych kluczach.

    W sumie to tego nie wiedziałem. Obciążenie odłączyłem do testów po tym, jak mostek się prażył nawet przy niewielkich prądach obciążenia przez zbyt mały DT, bo jak pisałem 320ns z drivera jest w zastosowanym przez ST układzie dalece niewystarczające. Po zwiększeniu DT z kolei bez obciążenia jest zimny, ale z obciążeniem trochę się grzeje - pewnie wspomniane niżej straty na diodach w czasie kosmicznie długiego DT...

    W pierwszym z linków we wstępie piszą:
    Cytat:
    Since long dead times lead to longer body diode conduction and a consequent loss of efficiency, it is always desirable to provide an optimally minimized dead time without running into shoot-through conditions.
    Czyli żeby jednak w miarę możliwości skracać DT. Fajnie pokazali to dalej na Fig.5a-5c oraz Fig.6, gdzie zarówno krótki DT powoduje straty przez "shoot-through" oraz zbyt duży DT powoduje niepotrzebne straty przez wydłużenie przewodzenia diodami... Swoją drogą jak widzę DT=20, 50, 75ns, to łezka się w oku kreci w porównaniu z tym 800 :D No ale fakt, oni mierzą w pracę przy 200kHz...

    _lazor_ napisał:
    Może Cię jeszcze zainteresować rysunek numer 2 z tego opracowania naukowego:
    https://www.researchgate.net/profile/Jan_Muck...rs-as-the-ZVS-and-the-almost-ZCS-switches.pdf

    Ten rys.2 i jego wcześniejszy opis w sumie ciekawy, ale nie będę udawał, że w pełni go rozumiem ;) Z tego, co wydaje mi się, że rozumiem, wynika, że przy pracy pod obciążeniem istotny jest moment przełączenia względem prądu obciążenia i gdy moment ten będzie zły, to na skutek braku naturalnego przeładowania pasożytniczych pojemności struktury tranzystora dokona się to udarowo przy przełączeniu bramki i może prowadzić do dziwnych efektów na wyjściu mostka, jak np. szpilka na rys.2d, czy chwilowe ponowne załączenie, jak na rys.2a?
    Czy w związku z tym z poziomu MCU powinienem monitorować prąd i się do niego synchronizować z przełączaniem?

    _lazor_ napisał:
    Ten dokument też jest bardzo ciekawy, chociaż mówi o konkretnym sterowniku, większość rzeczy można spokojnie przenieść na inne sterowniki.
    http://sites-final.uclouvain.be/lei/enseignem...me/Documents/ElectroniquePuissance/AN1299.pdf

    Super. Widzę, że dłuższa lektura, ale zabieram się do czytania. W sumie u siebie mam L6398, tu jest L638x, więc pewnie zasady będą analogiczne ;)
    Co ciekawe na szybko szukałem "L639x app note", wyskoczyło oczywiście coś innego, ale znowu stosują swój obwód z rezystorem 100R i diodą ;) www.st.com/resource/en/user_manual/dm00027889.pdf I znowu za wiele o tym nie piszą ;)
    Bardzo mnie ciekawi, czy to taki sprawdzony układ, czy ładują to wszędzie bez zastanowienia.. ale trochę ciężko mi w to uwierzyć :D
  • REKLAMA
  • #11 16856434
    _lazor_
    VIP Zasłużony dla elektroda
    Posty: 3795
    Pomógł: 259
    Ocena: 1132
    W układach rezonansowych jakie dead time się stosuje, ale tam przebiegi prądu są inne i nie wiem czy takie przetwornice mają zastosowanie do sterowania silników (nigdy mnie to nie interesowało).

    Pamiętaj o tym ze mosfety zawsze potrzebują radiatorów, nawet w małych prototypach niestety. Kiedyś mi się udało zrobić 50W rezonansową przetwornicę bez radiatorów, ale to było szczęście początkującego.

    Z tą diodą i rezystorem w obwodzie bramki, chodzi o to że mosfet powinien się wolniej otwierać niż zamykać. Oczywiście wszystko w granicach rozsądku, a gdzie ten rozsądek? W dokumentacjach, bo każdy obwód niestety będzie się charakteryzował innymi parametrami.

    Trzeba pamiętać, że mosfet ma pasożytnicza strukturę tyrystora i przy bardzo nie kożystnych warunkach potrafi się zatrzasnąć na amen. Podejrzewam, że to zalezy właśnie od takich parametrów jak odporność klucza na dU/dt oraz di/dt. które w nocie katalogowej są podane.

    Niestety energoelektronika wymaga troche teorii przed działaniem, bo jak się działa nie wiedząc co się robi to wydaje się dużo kasy na nowe klucze i drivery.
  • #12 16856699
    krisRaba
    Poziom 31  
    Posty: 1999
    Pomógł: 94
    Ocena: 434
    Przebrnąłem przez AppNote i w końcu ST wytłumaczył się tam z tego swojego magicznego obwodu bramki stosowanego we wszystkich układach.
    W skrócie kwestia minimalizacji "undershoot below ground" (szpilki ponizej poziomu masy? Czy jak to ładnie nazwać po polsku? :) ) w niektórych fazach pracy (pół)mostka. Pozostaje pytanie, czy każdorazowo to dobierają, czy raz policzyli i stosują teraz wszędzie ;)
    Ale dzięki podanym przez Ciebie dokumentom coś się rozjaśniło :)

    Ciekawą rzeczą wspomnianą też w AppNote jest sposób pomiaru napięć - wychodzi, że łączenie się z masą sondy do jakiegoś tam wygodnego punktu jest błędem i możliwe, że część "falbanek", które mogłem obserwować na przebiegach była tego skutkiem ;) Sprawdzę z nowym podejściem ;)

    Dodano po 6 [minuty]:

    _lazor_ napisał:
    Pamiętaj o tym ze mosfety zawsze potrzebują radiatorów, nawet w małych prototypach niestety.

    Hmm, tę płytkę IHM08M1 chyba zrobili tak, by nie był potrzebny, tj. chłodzi się przez PCB i tranzystory są "bez-nożne". Ciekawi mnie, czy radiator klejony termo-klejem do obudowy działa jak należy, czy może powinno się wtedy raczej chłodzić PCB, do której jest główny kontakt (power-pad)? ;)
    Może z kolei ja jestem trochę przewrażliwiony, że skoro palucha za długo nie przytrzymam, to już źle ;) Choć nie zmienia to faktu, że przy zbyt małym DT=320ns lekko nadtopił mi się plastik sondy chwyconej do kabla wyjściowego (przylutowanego do pada), więc tu już zdecydowanie było coś nie teges ;) Przy 800ns jak by się uprzeć, to da się trzymać podczas pracy...

Podsumowanie tematu

✨ W dyskusji poruszono temat czasów martwych w sterowaniu półmostkami H, szczególnie w kontekście zastosowania tranzystorów MOSFET, takich jak STL220N6F7 i STL160NS3LLH7, oraz driverów L6398. Uczestnicy wymienili się doświadczeniami dotyczącymi pomiarów czasów przełączania oraz wpływu rezystancji na wydajność układów. Zwrócono uwagę na znaczenie odpowiedniego doboru czasów martwych, które powinny być dostosowane do częstotliwości kluczowania oraz charakterystyki obciążenia. Wskazano na konieczność analizy przebiegów napięcia na bramkach oraz na ryzyko przegrzewania się tranzystorów przy niewłaściwych ustawieniach czasów martwych. Podano również przykłady typowych wartości czasów martwych, takich jak 150ns w topologii półmostka.
Podsumowanie wygenerowane przez AI na podstawie treści dyskusji.
REKLAMA