Witam.
Projektuję urządzenie do optycznego pomiaru pewnych elementów, ze względu na poufność projektu nie mogę niestety załączyć żadnych rysunków. Postaram się opisać w miarę dokładnie problem:
- Pomiar metodą optyczną dla uproszczenia (nieistotne z punktu widzenia pomiaru) urządzenie to jest rura, która na dole ma kamerę, na górze rury znajduje się płaska platforma do umieszczania próbki, pod nią jest przesłona sterowana elektronicznie, krytyczne jest to, że powinna ona być niedaleko od badanej próbki (parę mm), na platformie jest szczelina ograniczająca pole pomiarowe (powiedzmy 15 mm x 3 mm), na niej leży próbka, którą jest w uproszczeniu kawałek nieprzezroczystego szkła z naniesionym wzorem, przyjmijmy uproszczenie, że jest to szczelina powiedzmy 100 µm x 10 mm na ciemnym szkle. Nad wszystkim jest źródło światła.
- Problem, jaki napotkałem, to sposób umieszczania próbki, próbka (płytka szklana 15 x 20 mm) musi być powtarzalnie umieszczana w tym samym miejscu względem platformy pomiarowej/kamery/szczeliny oraz wypoziomowana względem platformy pomiarowej.
Samo umieszczenie próbki można ograniczyć prowadnicami czy pinami centrującymi, to nawet dobrze działa. Problem to docisk próbki do platformy pomiarowej, przy braku docisku próbka porusza się podczas pomiaru o 100–200 µm, a to dyskwalifikuje pomiar. Dodatkowo bez docisku poziomowanie próbki nie jest idealne, jako że mogą się one minimalnie różnić.
Testowałem mechaniczny docisk, sprawdza się, ale nie do końca, próbki to delikatne elementy optyczne, nie można praktycznie dotykać górnej części próbki, jedynie krawędzie są dopuszczone do dotykania. Element dociskający musi dodatkowo zapewnić w miarę łatwą wymianę próbki.
Testowałem sposób z podciśnieniem, ale tu są ograniczenia, jako, że znajduje się tam ruchoma przesłona dość blisko (pod spodem) próbki, to ogranicza rozmiar komory i podciśnienie.
Może któryś z kolegów ma pomysł, jak umieścić próbkę i jak ją mechanicznie unieruchomić.
Dziękuję za zainteresowanie.
Pozdrawiam
Projektuję urządzenie do optycznego pomiaru pewnych elementów, ze względu na poufność projektu nie mogę niestety załączyć żadnych rysunków. Postaram się opisać w miarę dokładnie problem:
- Pomiar metodą optyczną dla uproszczenia (nieistotne z punktu widzenia pomiaru) urządzenie to jest rura, która na dole ma kamerę, na górze rury znajduje się płaska platforma do umieszczania próbki, pod nią jest przesłona sterowana elektronicznie, krytyczne jest to, że powinna ona być niedaleko od badanej próbki (parę mm), na platformie jest szczelina ograniczająca pole pomiarowe (powiedzmy 15 mm x 3 mm), na niej leży próbka, którą jest w uproszczeniu kawałek nieprzezroczystego szkła z naniesionym wzorem, przyjmijmy uproszczenie, że jest to szczelina powiedzmy 100 µm x 10 mm na ciemnym szkle. Nad wszystkim jest źródło światła.
- Problem, jaki napotkałem, to sposób umieszczania próbki, próbka (płytka szklana 15 x 20 mm) musi być powtarzalnie umieszczana w tym samym miejscu względem platformy pomiarowej/kamery/szczeliny oraz wypoziomowana względem platformy pomiarowej.
Samo umieszczenie próbki można ograniczyć prowadnicami czy pinami centrującymi, to nawet dobrze działa. Problem to docisk próbki do platformy pomiarowej, przy braku docisku próbka porusza się podczas pomiaru o 100–200 µm, a to dyskwalifikuje pomiar. Dodatkowo bez docisku poziomowanie próbki nie jest idealne, jako że mogą się one minimalnie różnić.
Testowałem mechaniczny docisk, sprawdza się, ale nie do końca, próbki to delikatne elementy optyczne, nie można praktycznie dotykać górnej części próbki, jedynie krawędzie są dopuszczone do dotykania. Element dociskający musi dodatkowo zapewnić w miarę łatwą wymianę próbki.
Testowałem sposób z podciśnieniem, ale tu są ograniczenia, jako, że znajduje się tam ruchoma przesłona dość blisko (pod spodem) próbki, to ogranicza rozmiar komory i podciśnienie.
Może któryś z kolegów ma pomysł, jak umieścić próbkę i jak ją mechanicznie unieruchomić.
Dziękuję za zainteresowanie.
Pozdrawiam
